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What is a shelf life of a test? the effect of time on the psychometrics of a cognitive ability test battery / Chan Kim-Yin, co-aut. Fritz Drasgow, co-aut. Linda Sawin

Nível de conjunto: Applied Psychology, Vol. 84, nº 4 (1999), p. 610-619Autor principal: Kim-Yin, ChanCo-autor: Drasgow, Fritz;Sawin, LindaAssunto - Nome comum: Comportamento Organizacional Classificação: 3600 - Psicologia Organizacional Recursos em linha:Clicar aqui para aceder online Tipo de documento:
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